IRMS稳定同位素比质谱
IRMS稳定同位素比质谱
专用于 C、H、O、N、S 等稳定同位素比值的精密测定，配合连续流进样系统，可灵活联用元素分析仪、气相色谱、液相色谱等前端，覆盖从全样整体分析到单化合物精准解析的同位素检测能力。
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TIMS 热电离质谱采用热电离源结合扇形磁分析器与多接收器同步检测，是同位素比值高精度测定的基准技术。配合同位素稀释法，在 U-Pb 锆石定年及 Rb-Sr、Sm-Nd 等时线研究中长期被视为"金标准"。![]()
GD-MS 辉光放电质谱利用辉光放电对固体样品直接进行溅射与电离，免除繁琐的湿法消解流程。配合双聚焦扇形场设计，可近乎全元素覆盖地实现导电及部分非导电材料中痕量杂质的直接定量分析。![]()
HR-ICP-MS 高分辨电感耦合等离子体质谱采用双聚焦扇形场设计，通过高分辨模式物理分离多原子离子干扰，从根本上克服复杂基体中的谱学干扰瓶颈，被公认为复杂基体痕量元素分析的"金标准"。![]()
MC-ICP-MS 多接收电感耦合等离子体质谱将 ICP 源近乎全元素的高电离效率与磁扇形多接收器同步检测相结合，在保持进样灵活性的同时，获得可与 TIMS 媲美的高精度同位素比值。
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